-快速滿足復(fù)雜的 SoC 測試應(yīng)用需求
-Chroma 3680全方位高精度 / 高效能 SoC 測試系統(tǒng)，可提供高達(dá)2048個(gè) I/O 通道、數(shù)位通道速率 (data rate) 最高可達(dá)1Gbps、最高512個(gè)并行測試的能力及512M Word 測試資料記憶體深度，以提供最低的測試成本且滿足復(fù)雜 SoC 的測試應(yīng)用需求。應(yīng)用范圍包含微控制器 (MCU)、數(shù)位音訊、數(shù)位電視、機(jī)頂盒、數(shù)位信號處理器 (DSP)、網(wǎng)路處理器 (Network Processor)、現(xiàn)場可程式邏輯門陣列 (FPGA) 及消費(fèi)性電子 IC 應(yīng)用市場等測試方案。
HDAVO(High Density Audio Video Option) 高性能混和訊號解決方案，為 Chroma 3680的選購模組，擁有可同時(shí)輸出的8個(gè)差動源模組 (AWG) 和同時(shí)接收的8個(gè)差動測量模組 (DGT)，且在每一個(gè)差動源模組(AWG)上能提供高達(dá)400Msps 的取樣頻率和在每一個(gè)差動測量模組(DGT)上能提供高達(dá)250Msps 的取樣頻率，具有高規(guī)格、低成本和多功能等優(yōu)勢，適用于標(biāo)準(zhǔn)的基頻、視訊、音訊、圖形、STB以及 DTV 等廣泛的混合訊號測試應(yīng)用。
搭配于3680上所開發(fā)的 CRISPro 軟體套件，讓使用者可以用圖形化介面 (GUI) 或程式語言做測試程式的開發(fā)，加上支援可同時(shí)測試 (Concurrent Testing) 的功能，以降低測試程式的時(shí)間，加快產(chǎn)品的量產(chǎn)速度。
經(jīng)濟(jì)且彈性高之完整 ATE 測試功能
Chroma 3380為一經(jīng)濟(jì)且彈性極高之 ATE 自動測試系統(tǒng)，最高可以提供1,280通道，速率最高可達(dá)100Mbps、并提供1024個(gè)并行測試能力。不僅具有多樣性模擬 (analog) 信號的儀器板卡可供選擇，更具備各種常見 ATE 系統(tǒng)之轉(zhuǎn)換軟件與硬件模塊，讓轉(zhuǎn)移平臺快速方便，降低整體測試成本 (COT)。此外，3380可以完整整合射頻測試儀 MP5806。同時(shí)支持 Direct Mount 和 Cable Mount 的測試方案，擁有4/8 RF Port 及120MHz 頻寬，涵蓋6GHz 范圍內(nèi)的無線測試規(guī)范，應(yīng)用范圍包含 Wi-Fi/ BT/ GNSS/ Tuner/ NB-IoT/ LoRa 等無線通訊與 IoT 應(yīng)用及 RF 元件測試 (PA/LNA/Converter 等 )，提供 RF/Digital 全方位 ATE(CP/FT/SLT) 測試解決方案。
Chroma 33010 PXIe 架構(gòu)之自動測試系統(tǒng) (ATE)，具完整 ATE 功能，對于價(jià)格更敏感的客戶，提供符合未來 PXI 測試方案發(fā)展應(yīng)用之趨勢及需求，以因應(yīng)未來更小 IC 通道及愈趨復(fù)雜功能之趨勢，尤其在 IoT 及車用感測 IC 測試上，PXI/PXIe 架構(gòu)在半導(dǎo)體測試無論在應(yīng)用多變和彈性上具有優(yōu)勢。應(yīng)用范圍包含微控制器、微機(jī)電 (MEMS) 感測器、射頻 IC(RF IC) 及電源 IC (PMIC) 等測試方案。
全溫度控制范圍，確保IC最終品質(zhì)
Chroma 3110S 雙用型單測頭的 Pick & Place 測試分類機(jī)，支援各種不同類型封裝晶片，如 BGA、μBGA、QFP 系列、QFN、Flip-Chip 與 TSOP 等，并可支援至120mm 封裝尺寸。內(nèi)建全溫度范圍控制模組(Full range Thermal Control Unit)，可提供高功率主動式溫控系統(tǒng) (High Power Cooling ATC)，溫度范圍零下攝氏40度 ~ 攝氏150度 (+/-攝氏3度) 選配高規(guī)格溫控器可達(dá)零下攝氏55度 ~ 攝氏175度 (+/-攝氏3度) 的溫控能力，并支援壓測力量220Kgf 的特殊需求，符合各類產(chǎn)品線綜合應(yīng)用，絕對是工程驗(yàn)證和小批量量產(chǎn)的理想設(shè)備。
